第三代半导体紫外探测材料及器件关键技术

国家重点研发计划战略性先进电子材料重点专项

课题四 当前位置:首页 >> 项目课题 >> 课题四

课题四:紫外探测阵列读出电路与成像系统集成技术


研究目标:

为了实现高性能SiC APD紫外单光子探测线阵,研究光子计数阵列读出电路设计方法,解决高增益SiC APD多元器件击穿电压离散、单光子探测像元串扰、高速计数动态范围小等技术难题;在此基础上,研制光子计数紫外线阵成像仪,并探索其高压电晕监测等方面的应用。


主要研究内容:

1.宽动态高精度光子计数阵列电路研究

2. 光子计数紫外成像仪

3.日盲紫外光子计数激光成像技术


拟解决的重大科学问题或关键技术问题:

1.单光子探测阵列一致性优化和噪声抑制问题

2.光子计数激光成像体制中克服白光背景噪声的问题

3.光子计数紫外成像系统图像处理算法


参加单位任务分工:

课题负责人:孙伟锋 教授

承担单位:东南大学、华东师范大学、思源电气有限公司、中科院长春光机所、南京大学


Copyright @ 2016 南京大学宽禁带半导体器件与微纳光电实验室 All rights Reserved 

地址:江苏省南京栖霞区仙林大道163号 邮箱:hailu@nju.edu.cn 技术支持:山楂科技